UV-A紫外辐照计产品用途
UV-A型紫外辐照计采用SMT贴片技术,选用高精度低功耗数字芯片,仪器外壳为流线型设计,探测器经过严格的光谱及角度特性校正,性能稳定,适用性强。该仪器适用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
UV-A紫外辐照计 产品特点:
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示,带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口(USB冗余供电)
* 低电量提醒
* 自动关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作,蜂鸣提示
UV-A紫外辐照计技术指标:
探头: | UV-420nm 探头 | UV-365nm 探头 |
波长范围及峰值波长: | λ:(375~475)nm;λP=420nm | λ:(320~400)nm;λP=365nm |
紫外带外区杂光: | UV420:小于0.02% | UV365:小于0.02% |
辐照度测量范围: | (0.1~199.9×103) μW/cm2 | |
相对示值误差: | ±8%(相对与NIM标准) | |
角度响应特性: | ±5%(α ≤10°) | |
线性误差: | ±1% | |
短期不稳定性: | ±1%(开机30min后) | |
响应时间: | 1秒 | |
使用环境: | 温度(0~40)℃,湿度<85%RH | |
尺寸和重量: | 160mm×78mm×43mm;0.2kg | |
电源: | 常规使用6F22型9V积层电池一只亦可使用数据线连接USB接口、5V电源适配器供电整机功耗 <0.2VA | |